Scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Goldstein, Joseph I. 1939 (autor)
Otros Autores: Newbury, Dale E. (autor), Michael, Joseph R. (autor), Ritchie, Nicholas W. M. (autor), Scott, John Henry J. (autor), Joy, David C., 1943- (autor)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York : Springer, c2018.
Edición:fourth edition
Materias:
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020 |a 9781493966745 
040 |a Sistema de Bibliotecas de la Universidad Nacional de Costa Rica  
040 |a SIDUNA 
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100 1 |a Goldstein, Joseph I.  |b 1939  |e autor 
245 1 0 |a Scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis /  |c Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy. 
250 |a fourth edition 
260 |a New York :  |b Springer,  |c c2018. 
300 |a xxiii, 550 páginas :  |b fotografías, diagramas, gráficos, muestras. 
336 |a texto  |2 rdacontent 
337 |a sin mediación  |2 rdamedia 
338 |a volumen  |2 rdacarrier 
504 |a Incluye apéndice página 542 e índice página 547 
650 0 4 |a RAYOS X 
650 0 4 |a MICROSCOPIA ELECTRÓNICA 
700 1 |a Newbury, Dale E.  |e autor 
700 1 |a Michael, Joseph R.  |e autor 
700 1 |a Ritchie, Nicholas W. M.,  |e autor 
700 1 |a Scott, John Henry J.,  |e autor 
700 1 |a Joy, David C.,  |d 1943-  |e autor