Nanometer Variation-Tolerant SRAM : Circuits and Statistical Design for Yield /
| Autores principales: | , |
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| Autor Corporativo: | |
| Formato: | eBook |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
New York, NY :
Springer New York : Imprint: Springer,
2013.
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| Edición: | 1st ed. 2013. |
| Materias: |
| Descripción Física: | XVI, 172 p. : online resource. |
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| ISBN: | 9781461417491 |