Nanometer Technology Designs High-Quality Delay Tests /
Autor principal: | |
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Autor Corporativo: | |
Formato: | eBook |
Lenguaje: | English |
Publicado: |
New York, NY :
Springer US : Imprint: Springer,
2008.
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Edición: | 1st ed. 2008. |
Materias: | |
Acceso en línea: | https://doi.org/10.1007/978-0-387-75728-5 |
Descripción Física: | XVIII, 281 p. 140 illus. online resource. |
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ISBN: | 9780387757285 |