Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
Otros Autores: | , , , , , , , |
---|---|
Formato: | Libro |
Lenguaje: | English |
Publicado: |
New York :
Springer,
2003.
|
Edición: | 3 edition |
Materias: |
Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica
Número de Clasificación: |
502.825 |
---|---|
Copia | Disponible |