Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits /
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
Dordrecht, Países Bajos :
Springer,
2007.
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| Edition: | 2 edición |
| Subjects: |
| Item Description: | Incluye índice. Base de Datos PROQUEST |
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| Physical Description: | 1 recurso en línea : ilustraciones, diagramas, gráficas, tablas. Disponible también en línea |
| ISBN: | 9780387465470 |