Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits /

Bibliographic Details
Main Author: Bushnell, Michael L.
Other Authors: Agrawal, Vishwani D. (creador)
Format: Book
Language:English
Published: Nueva York ; Boston ; Países Bajos ; Londres ; Moscú : Kluwer Academic Publishers, 2000.
Edition:1 edición
Subjects:
Description
Item Description:Base de Datos EBSCO/GOBI-YBP
Physical Description:1 recurso en línea : ilustraciones, diagramas, gráficas, tablas.
Bibliography:Bibliografía
ISBN:0306470403
9780306470400